ANALYSE DE TESTABILITE - PowerPoint PPT Presentation

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ANALYSE DE TESTABILITE

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Laboratoire d'Informatique, de Robotique et de Micro lectronique de Montpellier ... TESTABILITE(N coll 0) = CC1(N) CO(N) TESTABILITE(N coll 1) ... – PowerPoint PPT presentation

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Title: ANALYSE DE TESTABILITE


1
ANALYSE DE TESTABILITE
Christian LANDRAULT landraul_at_lirmm.fr Laboratoire
dInformatique, de Robotique et de
Microélectronique de Montpellier (LIRMM)
2
Analyse de testabilité
  • Mesures utilisées comme critères de choix
  • Générateurs automatiques de vecteurs de test
  • Outils de conception en vue du test
  • Testabilité
  • Caractéristique dun circuit qui influence divers
    coûts associés au test (longueur, complexité de
    génération dune séquence, )
  • Dépend du contexte
  • Pas dévaluation réelle
  • En pratique Basée sur les concepts de
    contrôlabilité et dobservabilité

3
Mesures de  Testabilité 
  • Contrôlabilité
  • indique la difficulté relative à positionner une
    ligne à 0 ou à 1 à partir des Entrées Primaires
    (EP)
  • Observabilité
  • indique la difficulté relative à propager une
    erreur à partir dune ligne vers les Sorties
    Primaires (SP)

4
Mesures dans le contexte
  • Test du collage à 0 de la sortie de G1
  • Génération de vecteurs aléatoires
  • Contrôle à 1 de la sortie de G1 très difficile
    (probabilité de 1/2n)
  • Génération de vecteurs déterministes
  • Contrôle à 1 de la sortie de G1 évident

e1
...0101
e1
1
e2
...1101
e2
1
O
O
. . .
. . .
. . .
. . .
G1
G1
1
0000
e10
e10
...1000
1
5
Différentes méthodes
  • Obtention des mesures dans le meilleur cas pour
    un test déterministe (SCOAP et dérivées)
  • Obtention des mesures à partir de calculs
    probabilistes pour un test aléatoire ou pseudo
    aléatoire (COP)

6
SCOAP(Sandia Controlability and Observability
Analysis Program)
  • Basée sur une analyse structurelle et
    nonnormalisée
  • Circuit cellules(comb.,séq.)
    nuds(comb.,séq.)
  • Valeurs des mesures croissantes avec leffort de
    test requis
  • Test d un nud
  • EPs contrôle observation SPs

7
SCOAP
  • Six mesures associées à chaque noeud N
  • CC0(N) contrôlabilité combinatoire à 0
    minimum de nuds comb. quil faut contrôler pour
    amener la valeur 0 sur N
  • CC1(N) contrôlabilité combinatoire à 1
    minimum de nuds comb. quil faut contrôler pour
    amener la valeur 1 sur N
  • CO observabilité combinatoire minimum de
    nuds comb. qui doivent être contrôlés pour que
    leffet de la faute sur N soit propagé vers une
    SP.
  • SC0 contrôlabilité séquentielle à 0 minimum
    de nuds séq. quil faut contrôler pour amener la
    valeur 0 sur N
  • SC1 contrôlabilité séquentielle à 1 minimum
    de nuds séq. quil faut contrôler pour amener la
    valeur 1 sur N
  • S0 observabilité séquentielle minimum de
    nuds séq. qui doivent être contrôlés pour que
    leffet de la faute sur N soit propagé vers une
    SP.

8
SCOAP
  • Evaluation
  • Contrôlabilité en sortie dune cellule fonction
    des contrôlabilités de ses entrées
  • Observabilité en entrée dune cellule fonction de
    lobservabilité en sortie et des contrôlabilités
    des autres entrées

CC(e1 )
CO(e1 )
CC(S)
CO(S)
CC(e2 )
CC(e2 )
9
SCOAP cellules combinatoires
e1
s
e2
  • CC0(s) min (CC0(e1),CC0(e2)) 1
  • CC1(s) CC1(e1) CC1(e2) 1
  • CO(e1) CC1(e2) CO (s) 1

e1
s
e2
  • CC0(s) CC0 (e1) CC0 (e2) 1
  • CC1(s) min (CC1(e1),CC1(e2))1
  • CO(e1) CC0(e2) CO (s) 1

10
Portes logiques classiques
AND2 CC0(OUT) min(CC0(IN1),CC0(IN2))
1 NAND2 CC0(OUT) CC1(IN1) CC1(IN2)
1 OR2 CC0(OUT) CC0(IN1) CC0(IN2)
1 NOR2 CC0(OUT) min(CC1(IN1),CC1(IN2))
1 INV CCO(OUT) CC1(IN) 1 BUF CCO(OUT)
CC0(IN) 1
Contrôlabilité Combinatoire à 0
AND2 CC1(OUT) CC1(IN1) CC1(IN2))
1 NAND2 CC1(OUT) min(CC0(IN1),CC0(IN2)
1 OR2 CC1(OUT) min(CC1(IN1),CC1(IN2))
1 NOR2 CC1(OUT) CC0(IN1) CC0(IN2))
1 INV CC1(OUT) CC0(IN) 1 BUF CC1(OUT)
CC1(IN) 1
Contrôlabilité Combinatoire à 1
AND2 CO(IN1) CC1(IN2) CO(OUT)
1 NAND2 CO(IN1) CC1(IN2) CO(OUT)
1 OR2 CO(IN1) CC0(IN2) CO(OUT)
1 NOR2 CO(IN1) CC0(IN2) CO(OUT)
1 INV CO(IN1) CO(OUT) 1 BUF CO(IN1) CO(OUT)
1
Observabilité Combinatoire
11
SCOAP divergences
CC1(N), CC0(N) SC1(N), SC0(N)
CC1(N), CC0(N), SC1(N), SC0(N)
CC1(N), CC0(N) SC1(N), SC0(N)
CO(N1)
SO(N1)
CO(N) min (CO(N1), CO(N2)) SO(N) min (SO(N1),
SO(N2))
CO(N2)
SO(N1)
12
SCOAP Calcul des valeurs
  • Initialisation des nuds
  • Si N EP, CC0(N) CC1(N) 1
  • SC0(N) SC1(N) 0
  • Si N SP, CO(N) SO(N) 0
  • Sinon CC0 CC1 SC0 SC1 infini
  • Phase 1
  • Calcul des contrôlabilités des EPs aux SPs,
  • Itération jusquà stabilisation
    M(N) min(M(N)av,M(N)ap)
  • Phase 2
  • Calcul des observabilités des SPs aux Eps

(Temps dexécution croît de manière quadratique
avec la taille du circuit)
13
SCOAP Exemple 1
Phase 1
CC0
CC1
Phase 2
CO
1
1
?
?
e1
?
?
5
s
e2
1
1
9
?
?
?
?
?
?
?
0
8
1
1
6
e3
7
?
?
?
?
?
1
1
?
?
?
?
?
Initialisation
Initialisation
14
SCOAP Exemple 1calcul des controlabilités
Phase 1
CC0
CC1
Phase 2
CO
1
1
2
3
e1


5
s
e2
1
1
9
3
3

4
11

3
8
8
6
0
1
1
7
e3
2
3



4
2
1
1
3
2



Initialisation
Initialisation
15
SCOAP Exemple 1Calcul des observabilités
Phase 1
CC0
CC1
Phase 2
CO
1
1
2
3
e1
10
9
5
s
e2
1
1
9
3
3
10
4
11
8
3
8
8
6
0
1
1
7
e3
2
3
3
11
9
4
2
1
1
3
2
7
9
10
Initialisation
Initialisation
16
SCOAP Exemple 1 (suite)
e1
s
5
e2
9
8
6
7
e3
e4
Nud CC1(N)CO(N) vect. Test CC0(N)CO(N)
vect. Test Cà0 Cà1 e1
11 3 11
3 e2 11 3 11
3 e3 12 1
12 1 e4 11 3
11 3 5 11 3
11 3 6 11
3 12 1 7 9
3 11 3 8 11
3 6 9 S
11 3 4 13
17
SCOAP cellules séquentielles
D
Q
Bascule D sensible au front descendant, RAZ
asynchrone
H
QB
R
  • CC0(Q) min (CC1(R)CC0(H) , CC0(D)CC1(H)CC0(H)
    CC0(R))
  • CC1(Q) CC1(D) CC1(H) CC0(H) CC0(R)
  • SC0(Q) min (SC1(R)SC0(H) , SC0(D)SC1(H)SC0(H)
    SC0(R))1
  • SC1(Q) SC1(D) SC1(H) SC0(H) SC0(R) 1
  • CO(D) CO(Q) CC1(H) CC0(H) CC0(R)
  • SO(D) SO(Q) SC1(H) SC0(H) SC0(R) 1

18
SCOAP Exemple 2
Contrôlabilité Séquentielle bascule D sans RAZ
  • SC0(Q)SC0(D)SC1(H)SC0(H)1 SC0(D)1 (si H
    EP)
  • SC1(Q)SC1(D)SC1(H)SC0(H)1 SC1(D)1 (si H
    EP)
  • SC0(OUT) SC0(IN1)SC0(IN2)
  • SC1(OUT) min(SC1(IN1),SC1(IN2))

Contrôlabilités Séquentielles OU
  • SC0(OUT)min(SC0(IN1)SC0(IN2),SC1(IN1)SC1(IN2))
  • SC1(OUT)min(SC1(IN1)SC0(IN2),SC0(IN1)SC1(IN2))

Contrôlabilités Séquentielles OU Exclusif
FB
?
?
DI
O2
O1
O3
SC0
?
?
?
?
?
?
?
?
0
0
I
SC1
0
0
H
Initialisation
19
SCOAP Exemple 2 (suite)
SC0(FB) min( SC0(O1)SC0(O3) , SC1(O1)SC1(O3)
) SC0(FB) min( SC0(FB)1SC0(FB)3 , 13 )
13 SC0(FB) 4
SC1(FB) min( SC1(O1)SC0(O3) , SC0(O1)SC1(O3)
) SC1(FB) min( 1SC0(FB)3 , SC0(FB)13 )
SC0(FB)4 SC1(FB) 8
FB
DI
O2
O1
O3
SC0(FB)
SC0(FB)1
SC0(FB)2
SC0(FB)3
0
0
SC0
I
0
1
2
3
0
0
SC1
H
20
SCOAP Exemple 2 (suite)
FB
4
8
DI
O2
O1
O3
4
5
6
7
0
0
I
0
1
2
3
0
0
H
SC0
SC1
21
Les dérivés de SCOAP (1)
  • COMET(Controllability and Observability
    Measurement for Testability)
  • possibilité dutiliser des macrocellules et non
    plus uniquement des portes logiques (? gain de
    temps / SCOAP)
  • prise en compte de cellules bidirectionnelles
  • mesure de prédictabilité quantifie la
    facilité avec laquelle le circuit peut être
    initialisé dans un état connu
  • ITTAP
  • insertion interactive de points de test
  • mesure supplémentaire qui donne la longueur
    d une séquence de test aléatoire pour contrôler
    ou observer la valeur dun nud

22
Les dérivés de SCOAP (2)
  • ARCOP
  • testabilité d un nud difficulté de détecter
    un collage sur le nud
  • TESTABILITE(N collé à 0) CC1(N) CO(N)
  • TESTABILITE(N collé à 1) CC0(N) CO(N)
  • DTA (Daisy Testability Analyser)
  • insertion interactive de points de test (comme
    ITTAP)
  • possibilité dutiliser des macrocellules et non
    plus uniquement des portes logiques (RAM, ROM,
    PLA, blocs représentés par des fonctions
    booléennes) ? gain de temps / SCOAP
  • FUNTAP
  • généralisation de la méthode au niveau
    fonctionnel (ex chemins de données)

23
Inconvénients de SCOAP et de ses dérivés
exemple 1
2
s
1
4 ????
e1
SCOAP CC1
1
1
0
s
1
0
e1
Propagation de la valeur logique e1 1
1
1
Impossible de contrôler à 1
1
0
0
Propagation de la valeur logique e1 0
s
e1
0
0
24
Inconvénients de SCOAP et de ses dérives
exemples 2 et 3
SCOAP CC1
SCOAP CC0
s
e
1
2
3
4
5 ???
Pourtant il est aussi facile de contrôler s que e
1
3 ?
1
2 ?
1
1
La façon de réaliser une même fonction influence
les résultats
25
COP
  • Basée sur une Analyse structurelle
  • Mesures basées sur une approche probabiliste
  • proportion de vecteurs dentrée qui peuvent
    contrôler et observer le noeud
  • Limitées aux circuits combinatoires
  • Normalisées 0 1
  • Test d un nud
  • EPs contrôle observation SPs

26
COP
  • Cinq mesures associées à chaque nud N
  • C1(N) contrôlabilité à 1 de N
  • ( vecteurs dentrée donnant 1 sur N) / 2n (n
    bits)
  • C0(N) contrôlabilité à 0 de N
  • ( vecteurs dentrée donnant 0 sur N) / 2n
  • 1 - C1(N)
  • O(N) observabilité de N
  • ( de 1 et de 0 sur N observables sur 1 SP) /
    2n
  • O1(N) observabilité à 1 de N
  • probabilité de détecter un collage à 0 de la
    ligne N
  • C1(N).O(N)
  • O0(N) observabilité à 0 de N
  • probabilité de détecter un collage à 1 de la
    ligne N
  • C0(N).O(N)
  • C1(N), O(N) ? C0(N), O1(N), O0(N)

27
COP portes classiques
  • Porte AND
  • C1(s) C1(e1) . C1(e2)
  • O(e1) C1(e2) . O(s)
  • Porte OR
  • C1(s) 1 - (1-C1(e1)).(1-C1(e2))
  • O(e1) (1-C1(e2)) . O(s)
  • Porte NOT
  • C1(s) 1 - C1(e)
  • O(e) O(s)

28
COP calcul des mesures
  • Initialisation C1(EPs) 0,5 , O(SP) 1
  • Passe avant (EPs vers SPs) pour les
    contrôlabilités
  • Passe arrière (SPs vers EPs) pour les
    observabilités
  • Racine (B) et b branches de divergences (Bi)
  • O(B) 1 - ? (1-O(Bi))

(Temps dexécution croît de manière linéaire avec
la taille du circuit)
29
Conclusion
  • Mesures présentées
  • Hypothèse dindépendance entre les aspects
    contrôlabilité et observabilité
  • Calcul de la testabilité NP-complet
  • Algorithmes empiriques et approximatifs
  • Observabilité et Contrôlabilité mauvaise image
    de la testabilité (qui est induite par le
    recouvrement entre lensemble des vecteurs
    dentrée assurant la contrôlabilité d une panne
    et l ensemble des vecteurs d entrée assurant
    lobservabilité de cette même panne)
  • Erreur dinterprétation possible MAIS néanmoins
    largement utilisé dans lindustrie
  • Aide à la génération de vecteurs de test
  • Aide à la conception en vue du test
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