Title: Transistor Bipolaire
1Transistor Bipolaire
2Plan
- Principe de fonctionnement
- Caractéristiques statiques
- Équations dEbers-Moll
- Paramètres statiques gains
- Effets du second ordre
- Transistor en commutation
- Transistor en HF
- Transistor à Hétéro-jonction TBH ou HBT
3Principe de fonctionnement
- Géométrie
- Latéral
- Vertical
- Dans les circuits numériques, structure verticale
vertical
latéral
4Principe de fonctionnement
- 2 jonctions pn tête bêche.
- La première (EB) sert à injecter les porteurs
- La deuxième (BC) à les collecter
5Principe de fonctionnement
- Jonction en inverse
- Courant faible car réservoir vide
- En modulant le remplissage du réservoir,
modulation du courant inverse collecté
(collecteur) - On remplit le réservoir (la base) en polarisant
en direct la jonction EB
6Principe de fonctionnement
- La polarisation inverse CB permet de créer un
champ électrique favorable à la collecte. - Conditions
- Base fine
- Éviter les recombinaisons
- Base peu dopée /émetteur
- Privilégie un seul type de porteurs injectés
(meilleure efficacité dinjection)
7Caractéristiques statiques
Transistor NPN
Transistor PNP
8Caractéristiques statiques hyp simp
Pas de recombinaisons dans la Base ! ( )
Approximation 1D
Dopage homogène de la Base
Faible Injection
Transistor PNP
9Calcul des différentes composantes du courant.
Équations dEbers-Moll dans NPN
- Dans la base
- Équation de continuité
- Or et
- Intégration de E-B à C-B
- Soit encore
- En régime normal, Jn négatif ( e- vers xlt0)
10Calcul des différentes composantes du courant
Équations dEbers-Moll dans NPN
- Courant suivant convention de signes
NPN
11Calcul des différentes composantes du courant
Équations dEbers-Moll dans NPN
Isn
12Calcul des différentes composantes du courant
Équations dEbers-Moll dans NPN
avec
charge dans la base QB QS
13Paramètres statiques du transistor bipolaire
- Régime normal de fonctionnement
- E-B en direct et C-B en inverse
14Paramètres statiques du transistor bipolaire
- Efficacité dinjection démetteur
- Gain en courant en base commune
- Gain en courant émetteur commun
Rem si on néglige Recomb dans la base,
identique à
15Paramètres statiques du transistor bipolaire
- Facteur de transport dans la base
- Introduction des recombinaisons dans la région
neutre de la base
16Paramètres statiques du transistor bipolaire
- Introduction des recombinaisons dans la région
déplétée de la base
avec WT, largeur de la ZCE E-B.
En tenant compte de cela, on doit réécrire le
courant de Base
17Paramètres statiques du transistor bipolaire
- Le gain global en courant sécrit alors
- Avec
- le courant de base intrinsèque (pas de
recombinaisons) - le courant de recombinaisons dans la
région neutre de la Base - le courant de recombinaisons dans la
région déplétée E-B
18Les autres régimes de fonctionnement
- Régime saturé
- Les 2 jonctions sont polarisées en direct.
19Régime saturé
- Régime de faible injection (QSltltQB)
- Le courant est du aux charges injectées dans la
base, ie QS QS1 QS2 - Si base courte (voir PN), cette charge est
donnée par le surface du ½ trapèze
20Régime saturé
- Régime de faible injection (QSltltQB)
- Autre représentation de la charge de
saturation (Ablard) - On considère le transistor en régime normal avec
une charge QSN correspondant au même courant
Icsat une charge QSAT à calculer - QST QSNQSAT
On obtient alors
Responsable de la dégradation des performances
dynamiques
0
WB
21Régime saturé
- Régime de forte injection
- Dans ce cas, la densité délectrons injectés est
égale à la densité de trous dans la base (
) - Une études similaire à la précédente conduit au
résultat suivant - En fait, ces résultats doivent être modifiés par
des effets secondaires ou parasites
22Effets secondaires
- Visualisation sur un Gummel plot
- Représentation de IC et IB en fonction de VBE
3
1
2
23Effets secondaires
- Effet Early , effet de perçage du collecteur
- Claquage de la jonction Base - Collecteur
- Résistances série dÉmetteur et de Base
- Diminution ( collapse ) de Ic à fort courants
- Défocalisation ( crowding effect ) du courant
24Effet Early - Perçage
- À première vue , Ic indépendant de VCB
- En fait, modulation de la largeur de la région
neutre de la base, donc QBQS , donc Ic !
Si VBC
ZCE B-C
WB
QBQS
Ic
25Effet Early - Perçage
- Cas limite
- ZCE BC déplète totalement la base
- Le collecteur injecte alors du courant
directement dans E. - Courant uniquement limité par Rsérie E C
26Claquage de la jonction B - C
- Avalanche de la jonction B-C
- Apparaît souvent avant le perçage
- Comment léviter?
- Diminuer le champ électrique
- Diminuer le gradient de dopage dans le collecteur
- Couche peu dopée entre Base et collecteur
Ionisation par impacts
27Résistance démetteur et de la base
- À bas courant, effets négligeables
- Pour circuit rapides, B-C tjs en inverse (rc le
plus petit possible) - Résistances rc peu deffet
- Seules re et rb jouent un rôle.
- Chute de potentiel dans ces résistances
28Diminution ( collapse ) de Ic à fort courant
- Plusieurs facteurs peuvent entraîner la
diminution de IC0 - Augmentation de la charge dans le Base
(neutralité) - Augmentation de la largeur de la région neutre de
la Base (déplacement de la ZCE vers le
collecteur) effet Kirk
29Défocalisation du courant ( crowding effect )
- Limage dun dispositif à une dimension est une
approximation - Le bord du contact émetteur est plus polarisé
que le centre - Favorise une forte densité de courant
- Pas bon pour les composants de puissance
- Solutions technologie inter digitée
30Transistor bipolaire interrupteur ?
- État ON interrupteur fermé (Tr. Saturé)
- État OFF interrupteur ouvert (Tr. Bloqué)
31Transistor bipolaire interrupteur ?
- Signal de commande (dentrée) le plus faible
possible - Puissance de commande la plus petite possible
- Emetteur Commun
32Transistor bipolaire interrupteur ?
- À quelle vitesse, linterrupteur fonctionne-t-il
? - Facteurs limitatifs ?
- La charge dans la base sécrit
- Le courant collecteur est donné par
-
- temps de transit
- dans la Base (courte)
- Temps de mise en conduction
- Équation de continuité de la charge
33Transistor bipolaire interrupteur ?
- Mise en conduction
- IC augmente jusquà atteindre
- (on néglige VCEsat )
- La charge limite QB(ton) pour saturer le
transistor est donnée par - Le temps de mise en conduction est donné par
34Transistor bipolaire interrupteur ?
- Remarque la charge peut augmenter pour
sursaturer le transistor - Temps de Blocage entrée à 0
- Évacuation de la charge stockée
- Cest le temps de stockage ts
- Au delà, même phénomène que jonction PN
Valeur finale
35Transistor bipolaire interrupteur ?
- Le temps de stockage (de désaturation) limite la
vitesse de commutation - 2 façon pour le réduire
- Impuretés qui tuent la durée de vie dans la
Base - Diode Schottky en // sur la diode C-B évite la
sursaturation du transistor
36Transistor en ac schéma équivalent
37Transistor en ac schéma équivalent
- Transconductance relie la variation du courant
collecteur à la tension Base Emetteur, soit - Résistance dentrée elle relie la variation de
la tension Base Emetteur au courant de base,
soit - Résistance de sortie
38Transistor en ac schéma équivalent
- Capacité
- capacité de stockage
- temps de transit
- Capacité capacité de jonction de la
jonction C B polarisée en inverse - Capacité de la couche de déplétion de la diode
collecteur substrat
39Transistor en ac schéma équivalent
- Fréquence de coupure (gain en courant 1)
- Le gain en courant est donc donné par
40Transistor en ac schéma équivalent
- À basse fréquence
- Dans les transistors modernes, en général,
- À hautes fréquences, PI domine
41Transistor en ac schéma équivalent
- On obtient alors la fréquence de coupure
( cutoff frequency ) en faisant iC/iB1 - Soit encore
Temps de transit en direct
42Transistor en ac schéma équivalent
- Fréquence max ( maximun oscillation frequency )
?gain en puissance1 - Tient compte de la résistance de Base
43Transistor Bipolaire à Hétérojonction
- Expression du gain
- Si la base est courte
44Transistor Bipolaire à Hétérojonction
- Pour un gain en courant le plus grand possible,
on doit avoir un le plus proche de
lunité. - Diminuer le dopage de la Base
- Diminuer la longueur de la Base
Augmente la résistance de la Base, donc diminue
fmax
45Transistor Bipolaire à Hétérojonction
- Autre solution
- Augmenter le dopage de lémetteur
- Améliore lefficacité dinjection
- Pb gap shrinking ?
46Transistor Bipolaire à Hétérojonction
On voit donc quil est difficile de concilier un
fort dopage démetteur, une base peu dopée et
fine avec un gain important
47Transistor Bipolaire à Hétérojonction
- On construit une structure à différence de
gap négatif - Le TBH ou HBT
48- Besoins pour les dispos bipolaires
- Fort gain
- Efficacité démetteur forte
- Vitesse élevée
Demandes et Problèmes dun BJT
Problèmes
Demandes
Diminution du Gap gt injection par la Base
émetteur fortement dopé
Base peu dopée Base étroite
Forte résistance Base
SolutionTransistors Bipolaire à hétéro-jonction
- Emetteur fortement dopé en utilisant un SC à gap
plus grand que celui de la Base - Base peut être fortement dopée et étroite sans
augmenter la résistance de base - Collecteur peut être choisi tel que la tension de
claquage soit élevée
49Dispositifs Bipolaires
- Si peut être combiné avec
- Silicium amorphe (Eg1.5 eV)
- SiC (Eg2.2 eV)
- Polysilicium (Eg1.5 eV)
- TBH avec Si
- Si/SiGe très prometteur
- avec fréquence de coupure
- de lordre de 100 GHz
- Qualité de linterface excellente gt TBH de
hautes performances - Composants intégrés monolithiquement avec dispo
optoélectronique
- TBH GaAs/AlGaAs
- ft 150 GHz
- InGaAs/InAlAS et InGaAs/InP TBHs
- Les valeurs de ft gt 180 GHz
- Accord de maille avec InP
- Intégration avec composants optoélectroniques
- Haute fréquence
- Évacuation thermique (puissance)
50 Les applications des Bipolaires
Applications mémoires
Bipolaire mémoires statiques MOS mémoires
dynamiques
Applications Bi-CMOS
Combinaisons des 2 technologies On a lavantage
des 2 gtfort développement
MMIC (Microwave Millimeter Integrated Circuit)
Propriétés HF, puissance gt amplificateurs,
convertisseurs A/N
51Références
- H. Mathieu, Physique des semi-conducteurs et
des composants électroniques , 4 édition,
Masson 1998. - P. Leturcq et G.Rey, Physique des composants
actifs à semi-conducteurs , Dunod Université,
1985. - J. Singh, semiconductors devices an
introduction , McGraw-Hill, Inc 1994. - Y. Taur et T.H. Ning, Fundamentals of Modern
VLSI devices , Cambridge University Press, 1998. - K.K. Ng, complete guide to semiconductor
devices , McGraw-Hill, Inc 1995. - D.J. Roulston, Bipolar semiconductor devices ,
McGraw-Hill, Inc 1990.