Diapositive 1

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2ième Journée XGamma Institut Jean Lamour, Centre
de Compétence XGamma (Diffraction-Diffusion-Imager
ie X et Spectroscopie Mossbauer) UMR 7198
CNRS-Nancy Université
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2ième Journée XGamma Institut Jean
Lamour, Centre de Compétence XGamma (Diffraction-D
iffusion-Imagerie X et spectroscopie
Mossbauer) UMR 7198 CNRS-Nancy Université
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CC Xgamma Domaine dapplication
15 diffractomètres
Monocristal Analyse structurale Laue , Weissenberg
Diffractomètre Kappa CCD (lMo, lCu)
Imagerie Topographie (méthode de Lang)

Mésostructures Matière molle, Polymères, Microstructures SAXS/WAXS

Dépots Texture/ Contrainte /reflectométrie -Xpert Pro MRD Cu (4 cercles) -2 Incidence Rasante INEL (Temp)
- D8 Discover Co Geometrie dEuler (DHS1100, Detecteur Discr. Energy)
Matériaux Polycristallins Nouveaux matériaux, analyse structurale, Xpert Pro MPD(N2liq-1200C), Guinier 2 Diffracto lMo
D8 Advance Cu Ka1(BT) Tomographie

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Caractérisation Microstructurale par DRX
9h30 - 10h15 Accueil- Café
10h15 - 10h30 Introduction
10h30 - 11h15 "Caractérisation des contraintes et de la microstructure par DRX sur les matériaux métalliques. Rôles des procédés de transformation, conséquences sur les propriétés mécaniques" Jean Lou Lebrun - Institut de Recherche en Constructibilité/Ecole Spéciale des Travaux Public de Cachan
11h15 - 12h00 "Analyse de films minces par réflectométrie des rayons X et GISAXS " Alain Gibaud -Université du Maine du Mans, Laboratoire de Physique de l'Etat Condensé UMR 6087
12h00 - 14h00 Pause déjeuner
14h00 - 14h45 "Caractérisation des déformations dans les films minces et les nanostructures par diffraction des rayons X-Apport du rayonnement synchrotron  " Olivier Thomas - Université Paul Cézanne Aix-Marseille III, Institut Matériaux Microélectronique et Nanosciences de Provence UMR 6242
14h45 - 15h30 "Caractérisation des Textures (différents types, technique de caractérisation et interprétation des mesures) "  Bernard Bolle - Université de Paul Verlaine de Metz, Laboratoire d'Etude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux UMR 7239
15h30 16h00 Bilan et partage dexpérience
16h00 17h00 Visite du Centre de Compétence XGamma- site Mines