Title: K
1Közeltéri mikroszkópiák
- Dr. Mizsei János
- Reichardt András
2Bevezetés
- There's Plenty of Room at the Bottom Richard
P. Feynman, 1959.12.29. - http//www.zyvex.com/nanotech/feynman.html
- Manipulációs és vizsgálati módszerek szükségesek
3Pásztázó (felület)vizsgálat általános
meggondolás
- Vizsgált tárgy (felületi) felépítésének és/vagy
egyéb tulajdonságának vizsgálata - A felület egy pontjában vizsgálat elvégzése
- A felület mentén pásztázó (scanning) mozgás vagy
a tárgy pásztázó mozgatásával a teljes vizsgált
terület lefedése - A pontonkénti vizsgálat eredményének összerakása
4Közeltéri általános meggondolás
- gerjesztés mikrotartományban (közeltér), az
analízis globálisan - gerjesztés globálisan, az analízis
mikrotartományban (közeltér) - a gerjesztés is és az analízis is közeltéri
5Gyujtemény
SEM scanning electron microscope STM scanning
tunneling microscope AFM atomic force
microscope contact AFM non contact AFM
dynamic contact AFM MFM magnetic force
microscope EFM electroscatic force microscope
SVM scanning voltage microscope KPFM kelvin
probe force microscope SCM scanning capacitance
microscope FMM force modulation microscope
SThM scanning thermal microscope NSOM
near-field scanning optical microscope
6Pásztázó elektronmikroszkóp (nem közeltéri ?)
- Elvi muködés gerjesztési körte - válaszjelek
Szekunder elektronok Visszaszórt elektronok
7Pásztázó elektronmikroszkóp
8Pásztázó elektronmikroszkóp SE képek
9Pásztázó elektronmikroszkóp
- Visszaszórt elektronok detektálása
- (detektor
- pn átmenet, csak
- az épp felé repülo
- elektronokat látja)
repedés
SE kép
10Pásztázó Alagút MikroszkópScanning Tunneling
Microscope
- G. Binnig (1947) és H. Rohrer (1933) IBM
Research Institut, Zürich, 1982 - 1986, Nobel-díj "for their design of the
scanning tunneling microscope" - http//nobelprize.org/physics/laureates/1986/inde
x.html - (1986, Ruska (sz. 1906, m. 1988) az
elektronoptika terén elért eredmények és az elso
elektronmikroszkóp megalkotásáért)
11STM - alapelv
- Hegyes fémtut (tip) a felülethez elég közel
elhelyezni - Az alagútáramot a felület és a tu között mérni
- A mért árammal a felület és a tu távolságát
visszaszabályozni
12STM - alapelv
Fémek esetén összeérintéskor a Fermi-szintek
beállnak Külso tér segít az alagutazásban
13STM felépítés
- Vázlatos felépítés és egy lehetséges elhelyezés
14STM - problémák
- Megvalósítás során megoldandó problémák
- Zajvédelem
- Mechanikai
- Elektronikai
- Piezo mozgatás
- STM tu
15STM mechanikai zajvédelem
- 1-nál kisebb mechanikai zaj az áramban lt1pm
- épület rezgési amplitúdója 100 pm
- többszörös csillapítás
Binnig, Rohrer building the microscope upon a
heavy permanent magnet floating freely in a dish
of superconducting lead
16STM piezo mozgatás
- Minta/fej mozgatás piezo motoros megoldással
Nagy méret, így kis rezonancia Jelentos
nem-linearitás
Kompakt méret Hosszával csökken a torzítás
17STM - tu
- Az alagútáram exponenciális jellege miatt a tu
kialakítása lényeges. Ideális esetben egyatomos a
hegy.
Hegyes tu
Tompa tu
18STM a tu szerepe
19STM mérési módok
- Állandó magasságú
- Állandó áramú
20STM berendezés
- Mérés zavaró potenciál jelenlétében
21STM felvételek 1.
- Korall
- Cu(111) felületen Fe atomokkal (48 db)
kialakított struktúrad71.3 Angstrom - Állóhullámok az állapotsuruség mintázatban
(psi2)
IBM Almaden Research Institute,
www.almaden.ibm.com
22STM felvételek 2.
IBM Almaden Research Institute,
www.almaden.ibm.com
23STM felvételek 3.
- Cr szennyezo-atomok a Fe(001) felületen -
kicsiny hupplik
NASA
24STM felvételek 4.
SnO2-Pd gázérzékelo felület megváltozása H2
adszorpció hatására
25STM felvételek 5.
UHV STM kép GaAs, donor, vakancia
UHV STM kép Si lt100gt felület
26STM atomi manipuláció
- Kanji jel
- Értelme atom
- Irodalmi fordításban eredeti gyerek
(original child) - Media Iron on copper(111)
IBM Almaden Research Institute,
www.almaden.ibm.com
27STM atomi manipuláció
- Korall kép eloállításának lépései
IBM Almaden Research Institute,
www.almaden.ibm.com
28STM atomi manipuláció
- Variációk egy témáraazonban a legszebb az
eredeti korall!
29STM SEM összehasonlítás
Forrókatód, geometriailag távol
Hidegkatód
30Pásztázó Atomero Mikroszkópia - Atomic Force
Microscope
- C. Binnig, 1986 Binnig, G., Quate, C.F., and
Gerber, Ch. (1986) Atomic force microscope. Phys.
Rev. Lett. 56(9), 930-933 - Nem szükséges minta elokészítés
- Nem-vákuumos
- Valódi 3D
- Sematikus felépítés
http//en.wikipedia.org/wiki/Atomic_force_microsc
ope
31AFM - alapelv
- A tu által érzékelt erohatás mérése atomi
távolságra a felülettol
Taszító erohatás
Lenard-Jones potenciál
Vonzó erohatás
32AFM alapelv / felépítés
- Részegységek
- Lézerforrás
- Tükör
- Fotodetektor
- Erosíto
- Vezérlo el.
- Minta és piezomozgató
- Tu
- Cantilever
33AFM mérési módok
- Contact Ero nagyságának állandóan tartása
- Non-contact (dynamic) rezonancia frekv.
környéki rezgetés a rezgést a tu-felület
kölcsönhatás megváltoztatjaltkisebb nyíró hatás a
mintára mint contact-nálgt - - frekvencia modulálás minta karaktere
- - amplitúdó moduláció topográfia (intermittent
contact or tapping mode)(fázis változás
anyagtípus azonosítás)
34AFM tu (tip)
Normal tip (3 um) 30 nm lekerekítési sugár
Ultralever (3 um) 10 nm lekerekítési sugár
Supertip
35AFM tu (tip)
36AFM berendezés
37AFM a tu hatása
- Broadening a tu széle hamar ér a vizsgált
mintához - Compression puha minta (pl. DNA) összenyomja a
mintát - Interaction forces megváltozik a kölcsönható
ero - Aspect ratio hirtelen/ugrásos minta esetén
1
2
1,2 http//spm.phy.bris.ac.uk/techniques/AFM/
38AFM a tu hatása mutermékek
39AFM felvételek 1.
clusters on terraces. Non-contact.
from http//www.physics.purdue.edu/nanophys
40AFM felvételek 2.
- Szén nanocsövek a felületen
Katholieke Universiteit Leuven http//www.fys.ku
leuven.ac.be/vsm/spm/gallery.html
41AFM felvételek 3.
Patkány hippocampus egy részlete élo neuron és
glia
Antibody modified tips measure or localise
antigens on the surface of a cell
E. Henderson, Prog. Surf. Sci. 46, 1, 39-60
(1994).
http//www.sst.ph.ic.ac.uk/photonics/intro/AFM.ht
ml
42AFM felvételek 4.
- TappingMode AFM image of epitaxial gold
nanocrystals grown on a mica substrate by vapor
deposition. Eash crystal is roughly 100 atoms, or
30 nm high. Although to the eye there appears to
be a continuous gold film on the mica, the sample
is nonconductive since the crystals do not make
contact. - D. Barlow, Washington State University
43AFM felvételek 5.
- Topographic image of a TFT LCD display50x50
micron
Micro Photonics Inc. http//www.microphotonic
s.com/academia.html
44AFM felvételek 6.
- Ezüstréteg kölcsönhatása AFM tuvel
45AFM felvételek 7.
- Ezüstréteg
- lehántása
- AFM tuvel
46AFM felvételek 8.
- Ezüstréteg lehántása AFM tuvel
47Nanotechnológia AFM tuvel anódos oxidáció
48AFM - Millipede
- Nagysuruségu adattároló eszközMillipede,
IBMCell size 9292 µm²(array 33 mm² )
M.I. Lutwyche, et.al. http//www.zurich.ibm.com/
st/mems/millipede.html
49AFM Millipede 2.
- Megvalósított chip és a tu jellemzoi (néhány száz
GB/in2 )
M.I. Lutwyche, et.al. http//www.zurich.ibm.com/
st/mems/millipede.html
50Tus letapogatás (Talystep), szegényember AFM-je
51MFM Magnetic Force Microscope
- Mágnesesen bevont hegyu tu alkalmazása AFM-en
Bits written on magneto-optical media.
52MFM felvételek
Magnetic bubbles and wires in a magnetic memory
R.M. Westervelt, Harvard University.
Magnetic bits written with an MFM probe on
perpendicular Co-Cr media with a NiFe sublayer.
The bits are about 180nm in size spaced 370nm,
giving an equivalent area density of 5
Gbits/in2. 2.3µm scan courtesy Michael Azarian,
Censtor Corporation.
Magnetic force microscopy image of magnetic
domains in the servo tracks of a hard disk. The
bright and dark lines indicate transition between
the longitudinal bits.
Magnetic force gradient image of servo patterns
on a hard drive. 72µm scan.
53Elektrosztatikus Ero Mikroszkópia(Kelvin Force
Microscopy)
54Elektrosztatikus Ero Mikroszkópia Kelvin Force
Microscopy AFM Kelvin
V
Vcpd
55Elektrosztatikus Ero Mikroszkópia Kelvin Force
Microscopy képek
700000V/m
700000V/m
A felület elektrosztatikus feltöltése AFM tuvel,
kontakt módban
56Pásztázó homikroszkópia
57Közeltéri Optikai Mikroszkópia NSOM
- Near-field Scanning Optical Microscope
- Diffrakciós limit (Ernst Abbe, 1873)
- d 0.61(?o/nsin?) 0.61(?o/NA)
- Ált ?o/2 a maximális felbontóképesség (látható
fénynél 250-300 nm) - Synge felvetése minta közelében elhelyezett
résen keresztül a megvilágítás Phil. Mag 6,
356, 1928
58Az optikai képalkotás geometriai és diffrakciós
elmélete
majd továbbhaladva és a képsíkban interferálva
a tárgy valódi képét hozzák létre
A különféle rendben elhajlított sugarak a
fókuszsíkban egyesülve a tárgy képének
kétdimenziós Fourier transzformáltját adják
59Az optikai képalkotás diffrakciós elmélete (Abbe)
majd továbbhaladva és a képsíkban interferálva
a tárgy valódi képét hozzák létre
A különféle rendben elhajlított sugarak a
fókuszsíkban egyesülve a tárgy képének
kétdimenziós Fourier transzformáltját adják
60NSOM - kezdetek
- Ash, Nicholls, 1972. mikrohullámon demonstrál (3
cm-es apertúrával l/60-as felbontás) Nature,
237, p.510, 1972 - 1980-as évek közepe Pohl, IBM Zürich APL 44(7),
p.651, 1984
61NSOM optikai szál
- Lemez helyett egy-módusú optikai szál esetén az
elv
62NSOM optikai szál 2.
- Optikai szál végzodés
- Alumínum bevonat
- aszimmetrikus vég, romló tulajdonságok
63NSOM alkalmazott elrendezés
64NSOM alkalmazott elrendezés
65NSOM optikai alagutazás
66NSOM optikai alagutazás
67NSOM optikai alagutazás
Közeltér
68NSOM optikai alagutazás
69NSOM
70NSOM alkalmazás 1.
- Single Molecule Detection Fluorescence NSOM image
71NSOM alkalmazás 2.
Mikroelektronikai hiba keresés Reflection
mode NSOM balra UV Microscope image jobbra
72NSOM alkalmazás 3.
- Optikai hullámvezeto vizsgálata
- Surface topography (balra), NSOM (jobbra)
73Hasznos címek
- http//en.wikipedia.org/wiki/Scanning_tunneling_mi
croscope - http//www.veeco.com/nanotheatre
- http//www.nanopicoftheday.org
- http//www.almaden.ibm.com/vis/stm/stm.html
- http//www.mobot.org/jwcross/spm
- http//www.physics.ucsb.edu/awschalom/techniques/
nsom.html - http//www.physics.mq.edu.au/goldys/optmicroweb/n
earField/nearfieldmicroscope.htm - http//www.fys.kuleuven.ac.be/vsm/spm/introduction
.html