PD66-poster

1
PD66
Circuito Auxiliar de Autoteste de Conversores
Analógico/Digitais
Alberto Rui Frutuoso Barroso Trabalho realizado
no Laboratório de Microelectrónica - Projecto e
Teste da FEUP
Orientação José Machado da Silva
Plano de trabalho
Objectivos do trabalho
- Estudo dos métodos clássicos de teste de
conversores A/D, e de métodos de implementação de
operações de computação numérica. -
Desenvolvimento de um método de cálculo de
parâmetros de caracterização de CAD por
sub-divisão do processamento em operações de
hardware e software. - Implementação de um
protótipo usando componentes discretos e
circuitos lógicos programáveis. - Escrita do
relatório.
Desenvolver mecanismos que facilitem o autoteste
em-circuito de conversores A/D embebidos,
promovendo -  a geração local de estímulos de
teste -  o acesso electrónico -  o
pré-processamento dos dados adquiridos.
Detalhes Técnicos
Trabalho realizado
Arquitectura típica de circuito de interface
analógica encontrado em sistemas integrados. A
lógica reconfi- gurável presente no sistema pode
ser reutilizada para implementar funções de
teste.

• Estudo de métodos de teste e caracterização de
  conversores A/D
• Adaptação de um protótipo implementado com
  lógica reconfigurável
• Estudo de implementações de operações
  matemáticas
• Caracterização do conversor no ambiente de
  prototipagem.
• Foram implementadas diferentes soluções de
  autoteste dos
• parâmetros INL, DNL, e SINAD de um ADC de 12 bits

Medida da relação sinal/(ruído distorção)
SINAD
Espectro do estímulo (FFT c/ janela)
Lay-out da FPGA para medida de SINAD
Medida da não-linearidade com estímulo sinusoidal
INL, DNL
Medida da não-linearidade com estímulo triangular
INL, DNL
Histograma do ADC
Histograma do estímulo sinusoidal
Nas diferentes soluções procurou-se minimizar a
área requerida - 900 portas lógicas (gerador
triangular e obtenção de histograma) - 3000
portas lógicas (gerador sinusoidal e obtenção de
SINAD e histograma) números da mesma ordem de
grandeza de soluções existentes no mercado.
PD66 Circuito auxiliar de autoteste de
conversores analógico/digitais Apresentação
pública de trabalhos da LEEC do ramo TEC, FEUP 23
Julho 2001